TASCON GmbH Prüflabor für Oberflächen, Grenzflächen & Schichten

Kontakt ins Adressbuch Website Firma
Mendelstr. 17
48149 Münster
Deutschland
E-Mail: tascon@tascon-gmbh.de
Internet: http://www.tascon.eu

Informationen über die TASCON GmbH

Gegründet 1997 als Prüflabor für Flugzeitmassenspektrometrie (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, ToF-SIMS) zählt tascon heute zu den international führenden Labors für diese Technologie, deren Anwendung wir ständig weiterentwickeln. Sie finden bei uns eine weltweit einzigartige Kombination von State-of-the-Art Geräten und Anwendungs-Know-How. Ende 2008 haben wir unsere Aktivitäten auf das Gebiet der niederenergetischen Ionenstreuung (Low Energy Ion Scattering, LEIS) erweitert undim Sommer 2009 in unserem Labor ein Gerät zur optischen Charakerisierung der Oberflächentopographie (Weißlichtinterferometrie, konfokale Mikroskopie) in Betrieb genommen. Seit Januar 2010 verstärkt die Photoelektronenspektroskopie (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) unser Geräteportfolio. Damit sind wir in der Lage, Oberflächen mit variabler Informationstiefe umfassend zu charakterisieren. Falls für die analytische Aufgabenstellung notwendig und sinnvoll, stehen Ihnen aber auch weitere oberflächenanalytische und nanoanalytische Techniken zur Verfügung, die wir z.T. in Kooperation mit Partnerlaboratorien anbieten.

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