Informationen über APT-9000 Serie
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Die APT-9000 Serie umfasst Testsysteme für die Erkennung von Produktionsfehlern auf bestückten Leiterplatten mit sehr schnellen, sich unabhängig voneinander bewegenden Prüfnadeln, so dass kein herkömmlicher Nadelbettadapter mehr erforderlich ist. 1987 entwickelte unser Technologiepartner TAKAYA das Konzept des Flying-Probe Testers, das die Vorteile fortschrittlicher Prüfmethoden und hochgenauer mechanischer Systeme in sich vereinigt. Seit dieser Zeit ist TAKAYA weltweiter Marktführer für Flying Probe Testsysteme. Die Forschungs- und Entwicklungskapazitäten sind auf die schnelle Markteinführung von Produktinnovationen konzentriert, um unmittelbar auf die sich rasch ändernden technischen Anforderungen und Bedürfnisse der Anwender reagieren zu können. Die Testsysteme der APT-9000 Serie stellen die neueste Generation von Flying-Probe Systeme dar, die das Wissen und die Erfahrung auf den Gebieten der Ansteuerung und Positionierung der Prüfnadeln und der Messtechnik vereinen. Das APT-9411 System besitzt neben der höchsten Positioniergenauigkeit und Testgeschwindigkeit auch die umfangreichsten Testfunktionen, wie z. B. erweiterte optische Tests sowie viele weitere Funktionen, welche die Testabdeckung beim Prüfen von bestückten Leiterplatten erhöhen. Die Flying Probe Testsysteme von TAKAYA ermöglichen bei Serien mit kleinen und mittleren Stückzahlen hohe Kostensenkungspotentiale zu erzielen und selbst Prototypen wirtschaftlich zu testen. Der Verzicht auf den Testadapter und die Testprogrammerstellung in kürzester Zeit führten zu einer erheblichen Steigerung der Wertschöpfung der Kunden. Angetrieben von den Bedürfnissen der Elektronikindustrie hat TAKAYA die Adapterlosen In-Circuit Testsysteme über die Jahre konsequent weiterentwickelt und ist auch heute, nach vielen Generationen der Flying-Probe Systeme, mit mehr als 1500 Systeminstallationen weltweiter Marktführer auf dem Gebiet der Flying-Probe Technologie. Effizienzsteigerung und Kostenreduzierung durch TAKAYA Flying-Probe Tester: Verringerung der Testkosten Nadelbettadapter werden im Allgemeinen zum Testen von Leiterplatten mit der ICT/MDA Methode eingesetzt. Gewöhnlich dauert die Herstellung von Nadelbettadaptern mindestens eine, wenn nicht gar mehrere Wochen. Neben der langen Herstellungszeit spielen auch die mit der Erstellung verbundenen hohen Kosten eine maßgebende Rolle. Wenn ICT/MDA in der Klein- und Mittelserienfertigung eingesetzt wird, zum Beispiel für die Anfertigung von Prototypen oder Einführung neuer Erzeugnisse in die Produktion, sind die Testkosten pro Stück sehr hoch und wertvolle Zeit geht durch das Warten auf die Fertigstellung der Nadelbettadapter verloren. Dieses führt nicht nur zu höheren Testkosten und somit einem geringeren Ertrag, sonder hat auch direkte negative Auswirkungen auf die „Time to Market“ bei der Leiterplattenproduktion. Da bei den Flying Probe Systemen der Serie APT-9411 vier Prüfnadeln eingesetzt werden, die mit einer hohen Geschwindigkeit unabhängig voneinander verfahren, sind herkömmliche Nadelbettadapter nicht mehr erforderlich. Durch die Testprogrammerstellung aus den CAD Daten ist die Prüfung ab der ersten Flachbaugruppe möglich.
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