Informationen über F10-AR
|
Interferometer zur Bestimmung von Entspiegelung (AR), Farbe auf Glas- oder Kunststofflinsen und Schichtdickenmessung in einem Messvorgang. Die vorgegebenen Kriterien, wie Minima, Maxima, Reflexion werden spektralanalytisch bewertet, aufgelistet und graphisch dargestellt. Farbwerte werden automatisch mitgeführt. Um höchste Reproduzierbarkeit zu gewährleisten sind bis zu 900 Messzyklen pro Sekunde möglich. Ein neues Design der Messsonde unterdrückt rückseitige Reflexionen und macht eine Schwärzung der Rückseite überflüssig. Spezielle Ausrichtung auf die Vermessung von Schichtdicke und optischer Konstanten dünner Schichten in der Photovoltaik. Aktive Schichten, die eher dazu entwickelt sind Licht zu absorbieren als zu reflektieren stellen besondere Anforderungen an das Messverfahren. Optimiert für Schichtdickenmessung von Parylene auf Proben mit verschiedener Geometrie. Proben werden einfach mit Messeite nach unten auf die Probenbühne gelegt. Informationen zu Reflexion und Transmission sind wichtige Kenndaten zur Bewertung von Spezialgläsern und beschichteten Folien. Das Doppelspektrometer F10-VC liefert ohne die Probe zu bewegen alle Messdaten und führt die Analysen in real time durch. Als Option können auch gleichzeitig Schichtdicken und optische Konstante ermittelt werden. Automatische Nullpunkteinstellungen vereinfachen Routinemessungen. Der ganze Messvorgang dauert den Bruchteil einer Sekunde.
|
