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Der neue F20 Detektor bestimmt Schichtdicken und optische Konstanten von dünnen Schichten innerhalb von Bruchteilen von Sekunden und erlaubt durch die hohe Empfindlichkeit den reibungslosen Betrieb mit einem Mikroskop. Zwei unabhängige Berechnungsmodelle sowie eine umfangreiche Materialdatenbank gewährleisten einen großen Anwendungs- und Schichtdickenbereich. In der UV-Version arbeitet das F20 im Bereich von 200-1100nm. Zur Kalibrierung von Beschichtungsanlagen oder zur Überwachung von Prozessen hat sich das F20 bestens bewährt. Der Messbereich liegt im IR Bereich und ist besonders für größere Schichtendicken, besonders stark absorbierende Schichten und raue Oberflächen geeignet. Der Probennehmer berührt leicht die Oberfläche und löst dadurch einen Messvorgang aus. Die Verteilung der Schichtdicken kann auch auf gewölbten Flächen, wie z.B. Autolampen, oder Werkstücken mit schwieriger Geometrie schnell und sicher durchgeführt werden. Durch Hinzufügen einer Deuteriumlampe wird das Spektrum auf den UV Bereich ausgedehnt. Damit lassen sich sehr dünne Schichtendicken von wenigen nm vermessen. Alle Komponenten entsprechen den Anforderungen des energiereicheren UV-Lichtes.
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