Informationen über F40
F40
SCUTEC
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Das F40 verwandelt Ihr Mikroskop durch einen einfachen Zusatz in ein Schickdickenmessgerät. Strukturierte Oberflächen können mit einer lateralen Auflösung von wenigen µm vermessen werden. Das Mapping von mikroskopisch kleinen Strukturen mit einer Lateralauflösung von weniger als 3µm sind das Einsatzgebiet für das F42. Die Schichtdicke wird bei jedem Pixel vermessen. Die genaue Positionierung erfolgt über eine integrierte CCD Kamera, die in real time Bilder von der Oberfläche zeigt. |
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