Informationen über Halbleitertest-Kontakte
Halbleitertest-Kontakte
uwe electronic GmbH
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Unsere Halbleitertest-Kontakte werden bevorzugt für das Testen von Halbleiterbausteinen eingesetzt und sind aufgrund ihrer speziellen Oberfläche (Endura-Gold) explizit für diese Tests ausgelegt., Mehr als 500.000 Testzyklen, Sehr widerstandsfähige Gold/Nickel-Legierung, dadurch geringere Haftung der zu kontaktierenden Materialien, dadurch Reduzierung der Reinigungszyklen, Folgende Kopfformen sind möglich:, 4-Punkt und 3-Punkt Krone für BGAs und bleihaltige Geräte, spitz zulaufende Kopfformen, Konkave Kopfformen für LGAs und QFNs, Kopfformen mit Radius, Höhere Kontaktierkräfte, zwischen 15 und 50 Gramm, im Vergleich zu herkömmlichen Kontakten, Konstante Federkraft über Laufzeit, Reduzierung des Widerstandes über die gesamte Lebensdauer auf einen gleichbleibend geringen Wert von ca. 25mΩ, Bis zu 30% höhere Lebensdauer gegenüber herkömmlichen Kontakten, Minimaler Reinigungs- und Instandhaltungsaufwand |
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