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AFM Raman AFM-Raman-System Renishaw GmbH
AFM Raman AFM-Raman-System Kombinierte AFM/Raman Instrumente (auch bekannt als SPM-Raman) ermöglichen eine verbesserte Probenanalyse durch eine Untersuchung der chemischen und strukturellen Materialeigenschaften im Submikrometerbereich. Das inVia Raman Mikroskop kann prinzipiell an jedes SPM bzw. AFM aller Hersteller angekopplet werden. Voll integrierte Systeme und Scanner sind von NT-MDT und Nanonics Imaging Ltd verfügbar., Messen physikalischer Eigenschaften bei molekularer Auflösung und chemische Analyse im Submikrometerbereich, Simultane Anwendung von Raman und AFM garantiert die Korrelation zwischen den aufgenommenenBildern, Eine Plattform bietetZuverlässigkeit und eine einfache Handhabung. Nur Renishaw bietet voll integrierte Systeme mit Scannern von NT-MDT und Nanonics Imaging Ltd. AFM-Raman-Systeme von Renishaw bieten:, Mehr Zeit zum Messen - die Mechanik und Software ist bereits voll integriet,wodurch Ihnen mehr Zeit bleibt, sich auf die Datenerfassung und -analyse zu konzentrieren., Schnellere Datenerfassung - Effizienzzwischen Probe und Raman-Spektrometer durchoptimales und bewährtes Zusammenspiel aller Komponenten., Vertrauen Sie den Experten-an Renishaw Ramansystemen wurden die ersten TERS-Messungen an Halbleiter-Bauelementen (veröffentlicht 2001) sowie die ersten Raman-AFM/NSOM-Messungen (veröffentlicht 1995)überhaupt durchgeführt., Ihre Wahl - Renishaw verfügt über Erfahrung und Sachwissen zurIntegration des von Ihnen gewählten SPM-Systems.

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